搜索结果: 1-9 共查到“应用光学 CCD”相关记录9条 . 查询时间(0.068 秒)
CCD光电参数测试系统的研制
CCD 动态范围 全自动测试 不确定度
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2016/8/26
研制了一套CCD光电参数测试系统,可实现对CCD的无效像元、相对光谱响应、响应度、等效噪声照度、动态范围、面响应度不均匀性等光电参数的全自动测试。CCD的相对光谱响应测试基于单光路直接比较法实现,而其他CCD光电参数的测试则基于特制的积分球光源。四个可独立开关的溴钨灯分别安置于四个次积分球内,经高精度电动光阑与主积分球级联,主积分球壁上的照度计经标定后可实时测试积分球光源出口照度值。该光源色温不变...
星上时间延迟积分CCD拼接相机图像的实时处理
时间延迟积分(TDI) CCD CCD相机 实时处理 图像增强 自适应中值滤波
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2014/3/10
提出一种基于现场可编程门阵列(FPGA)的时间延迟积分(TDI)CCD图像实时处理方法以提高拼接成像系统输出图像的质量和视觉效果。首先,对TDICCD成像系统进行像元级非均匀性校正,去除像元响应差异、固定图形噪声和暗电流噪声;对图像进行了基于行极值的自适应中值滤波,去除了图像中的随机噪声和脉冲噪声。然后,对噪声处理后的图像进行图像增强,通过提取图像的低频和高频成分,实现图像细节信息的调整和对比度增...
长焦距面阵CCD相机以TDI模式进行动态横向多幅扫描成像时,行转移频率高或者曝光时间长会使图像输出有明显缺损,从而影响图像的判读。为解决这一问题,分析了全帧CCD相机TDI模式的工作原理,分析认为快门曝光过程中CCD存在的无效TDI转移是导致输出图像出现缺损的主要原因。通过实验验证了分析结果, 并提出保证CCD曝光过程中TDI转移与机械快门曝光精确同步的方法来消除无效TDI转移。 据此设计了光电同...
考虑声光可调谐滤波（AOTF）成像光谱仪的需求，设计了它的CCD成像电子学系统。选用e2v公司的CCD芯片CCD57-10作为图像传感器，提出了DC/DC+LDO的架构实现各偏置电压；基于现场可编程门阵列（FPGA）等器件产生驱动时钟，AD9826完成CCD输出模拟信号到数字信号的转换，并通过USB及CameraLink接口与计算机通信。设计了CCD保护电路，并优化了数模混合电路的印刷电路板（PC...
光电经纬仪CCD曝光中心测量系统的设计
光电经纬仪 CCD曝光中心 IRIG-B码终端 数字信号处理 现场可编程门阵列 边缘提取
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2014/3/17
根据高精度靶场测角要求，设计了一套以IRIG-B码终端为时间基准，基于数字信号处理器（DSP）和现场可编程门阵列（FPGA）的CCD曝光中心测量系统。首先给出了CCD曝光中心的测量原理及硬件组成，利用共源的两台IRIG-B码终端控制发光二极管和CCD探测器，通过调整B码终端输出信号时延控制发光二极管，得到了1 Hz脉冲前后沿和曝光脉冲前后沿对齐的2个关键时刻。针对人工图像判读精度低的问题，提出了利...
针对采用焦平面CCD交错拼接方式的测绘相机会由于存在交会角而产生视场拼接漏缝问题，本文在考虑交会角和相机无侧摆的前提下提出了一种焦平面CCD重叠像元数算法。首先，根据测绘相机成像原理建立了前视相机成像模型，分析了产生视场漏缝的原因。接着，推导出在CCD数量为奇数和偶数两种不同拼接形式下的地面视场重叠及漏缝大小的数学表达式，进而得到了不产生漏缝时CCD片间最小重叠像元数计算公式，并对误差进行了分析。...
针对多输出CCD传感器成像存在接缝的问题，提出了一种基于延时积分（TDI）的校正方法。使用TDI的读出方式对均匀光源成像获得了具有亮度线性渐变的图像数据，建立了获得图像的行平均灰度和行曝光时间关系的模型，通过该模型对CCD每路输出特性进行拟合，校正了CCD多输出的不均匀性，解决了图像接缝问题,并在模拟前端（AFE）完成了校正过程。本方法仅使用一次成像过程，避免了辐照度调整精度对校正精度的影响。与传...
为了能采用物理意义明确的函数式来表述大格式电荷耦合器件(CCD)的性能参数,直观地实现对面阵CCD辐射性能的评价,本文提出利用"辐射响应函数矩阵"概念来表述CCD每个像元的辐射性能参量。首先,分析了该矩阵各元素的物理意义,提出了对CCD每个像元的绝对辐射响应度、响应非线性度、暗噪声、信噪比以及非均匀性的描述方法。其次,对面阵CCD KAI-16000进行辐射性能检测,并利用回归分析计算出各像元的响...