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中国科学院金属研究所专利:一种研究材料腐蚀电化学行为的装置及原位TEM方法
电子染色技术在SiO2/P(St-co-BA)复合微球TEM表征中的应用     子染色  核壳结构  复合微球  TEM       font style='font-size:12px;'> 2007/12/22
以核壳型的二氧化硅/苯乙烯-丙烯酸丁酯共聚物[SiO2/P(St-co-BA)]纳米复合微球为例,首次采用电子染色技术研究了不同的染色条件(染色方式、染液用量及染色时间)对SiO2/P(St-co-BA)核壳复合微球形貌的透视电镜(TEM)观察效果的影响,实验证明,对于该体系,采用的混合染色法不仅安全有效,而且易于操作和控制;醋酸双氧铀的染色效果优于PTA;染色时间1 min左右, 染液用量控制在...
银纳米线的TEM表征     电沉积  银纳米线  透射电子显微镜  模板合成       font style='font-size:12px;'> 2010/1/26
通过交流电沉积的方法,以多孔铝阳极氧化膜(Al2O3/Al)为模板,制备金属银纳米线.透射电子显微镜(TEM)分析表明, 银纳米线长度平均约为5 μm, 直径25 nm;银纳米线在多孔Al2O3/Al孔内互相平行,显示凸凹相间的条纹结构.选区电子衍射(SAED)证实,银纳米线具有面心立方(FCC)的多晶结构,探讨了银纳米线凸凹相间条纹结构的形成机理.

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