搜索结果: 1-15 共查到“知识库 电子科学与技术 ZnO”相关记录19条 . 查询时间(0.183 秒)
ZnO/ZnFe2O4复合纳米粒子的制备及其特性研究
ZnO ZnFe2O4 纳米复合结构 光催化特性
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2016/8/11
利用水热法制备了ZnO/ZnFe2O4纳米复合粒子。用扫描电子显微镜(SEM)、X射线衍射(XRD)、光致发光光谱(PL)对退火前后的ZnO/ZnFe2O4纳米粒子进行表征。研究结果表明, 退火后的ZnO/ZnFe2O4纳米复合粒子表现出更好的形貌和晶体质量, 主要由六角纤锌矿结构的ZnO和立方结构的ZnFe2O4构成。PL光谱显示, 退火后ZnO近带边的发光强度明显降低, 这是由于ZnO/ZnF...
溶胶-凝胶法ZnO薄膜的制备及性能表征
溶胶-凝胶法 ZnO薄膜 光学性能
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2012/11/12
采用溶胶——凝胶法在玻璃衬底上制备ZnO薄膜, X射线衍射(XRD)结果表明:晶粒尺寸随退火温度的升高而增大,与原子力显微镜(AFM)分析薄膜表面形貌的结果相符;UV\|Vis吸收谱线表明,在ZnO带边吸收的位置出现较强的吸收,并得到600℃退火处理的薄膜禁带宽度为3.23 eV;室温光致发光谱表明,所有薄膜均在386.5nm处出现一个紫外发射峰,当退火温度升高时,深能级发射受到抑制。
溶胶-凝胶法ZnO薄膜的制备及性能表征
溶胶-凝胶法 ZnO薄膜 光学性能
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2012/11/12
采用溶胶-凝胶法在玻璃衬底上制备ZnO薄膜, X射线衍射(XRD)结果表明: 晶粒尺寸随退火温度的升高而增大, 与原子力显微镜(AFM)分析薄膜表面形貌的结果相符; UV\|Vis吸收谱线表明, 在ZnO带边吸收的位置出现较强的吸收, 并得到600 ℃退火处理的薄膜禁带宽度为3.23 eV; 室温光致发光谱表明, 所有薄膜均在386.5 nm处出现一个紫外发射峰, 当退火温度升高时, 深能级发射受...
溶胶-凝胶法ZnO薄膜的制备及性能表征
溶胶-凝胶法 ZnO薄膜 光学性能
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2012/11/13
采用溶胶-凝胶法在玻璃衬底上制备ZnO薄膜, X射线衍射(XRD)结果表明: 晶粒尺寸随退火温度的升高而增大, 与原子力显微镜(AFM)分析薄膜表面形貌的结果相符; UV\|Vis吸收谱线表明, 在ZnO带边吸收的位置出现较强的吸收, 并得到600 ℃退火处理的薄膜禁带宽度为3.23 eV; 室温光致发光谱表明, 所有薄膜均在386.5 nm处出现一个紫外发射峰, 当退火温度升高时, 深能级发射受...
Characteristics of ZnO Layers Grown on GaN Template Under Argon Pressure by Pulsed Laser Deposition
ZnO Pulsed Laser Deposition Buffer layer Annealing
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2009/6/1
We employed epi-GaN substrates for ZnO film growth, and studied the deposition and post-annealing effects. ZnO films were grown by pulsed laser deposition (PLD) method. The as-grown films were anneale...
Growth Control of ZnO Nanorods by Pulsed Laser Deposition Method and Their Surface Enhanced Raman Scattering Properties
ZnO Pulsed Laser Deposition Nanorod
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2009/6/1
ZnO nanorod arrays have attracted considerable attention as a candidate for fabricating gas sensors, dye-sensitized solar cells, and light emitting diodes (LEDs) in the last few years. Controlling the...
Synthesis of Vertically-Aligned ZnO Nanowires by Nanoparticle- Assisted Pulsed Laser Deposition and Their Application to Photo-Devices
ZnO Nanowire Laser ablation
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2009/6/1
Vertically aligned ZnO nanowires have been successfully synthesized on annealed c-cut sapphire substrates by a catalyst-free nanoparticle-assisted pulsed-laser deposition (NAPLD) in Ar and N2 backgrou...
K掺杂p型ZnO薄膜的制备及其表征
氧化锌 薄膜 掺杂
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2009/2/1
以ⅠA族元素钾(K)作为掺杂剂,利用射频磁控溅射沉积技术,在单晶Si(111)衬底上成功生长了K:p-ZnO薄膜.采用Hall测试仪、X射线衍射、原子力显微镜和X射线光电谱等测试分析技术,对其结构和电学性能进行了研究.结果显示,该p-ZnO薄膜呈现良好的(002)单重择优生长特性,当衬底温度为500℃,氧分压为30%时表面粗糙度仅为89.05nm,其相应的空穴浓度为5.45×1017/cm3,迁移...
用MOCVD方法在GaAs衬底上低温生长ZnO薄膜
MOCVD ZnO薄膜 GaAs 低温
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2008/3/16
采用二乙基锌(DEZn)和水(H2O)作为生长源,利用金属有机化学气相沉积(MOCVD)的方法,在100~400℃低温范围内,在GaAs (001)衬底上制备了ZnO薄膜. 利用X射线衍射(XRD), 室温PL, AFM, SEM研究了薄膜的晶体结构特性、发光特性及表面形貌特性. XRD分析表明ZnO薄膜具有很强的c轴取向,(002)峰的FWHM平均值为0.3. .当生长温度达到400℃时从SEM...
基片表面朝向对ZnO纳米线生长机理的影响
汽-液-固(V-L-S)机理 汽-固(V-S)机理 ZnO纳米线 ZnO薄膜
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2012/4/14
采用热蒸发ZnO粉末法,以金膜为催化剂,在两片表面分别朝上和朝下的Si(100)基片上生长ZnO纳米线(样品分别标为1#和2#)。X射线衍射(XRD)图谱上只存在ZnO的(002)衍射峰,说明ZnO纳米线沿(001)择优取向。通过扫描电子显微镜(SEM)表征发现,ZnO纳米线整齐排列在Si基片上,直径在100 nm左右,平均长度为4 mm。通过分析得出,两种基片上生长的ZnO纳米线的生长机理是不相...
Au/n-ZnO/p-SiC紫外探测器的研制和特性分析。
ZnO欧姆电极制备与n-ZnO/p-Si异质结紫外光电特性
ZnO 宽带隙 异质结 紫外
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2010/9/6
ZnO欧姆电极制备与n-ZnO/p-Si异质结紫外光电特性。
The Study of Deep-level Emission Center in ZnO Films Grown on c-Al2O3 Substrates
ZnO MOCVD UV emission deep-level emission
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2010/7/16
ZnO films were grown on c-Al2O3 substrates by metal-organic chemical vapor deposition
(MOCVD). Thermal annealing was performed at 700℃ in growth conditions and in oxygen
atmosphere for 30minutes. Th...
The Degradation of Epoxy Resin-Coated ZnO Varistors at Elevated Temperatures and Ambient Humidity Conditions
Zinc oxide (ZnO) ceramics Varistor Degradation Epoxy resin powder Ageing Insulating material
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2010/12/7
The degradation of the epoxy resin-coated commercial ZnO varistors at elevated temperatures and ambient humid conditions has been investigated experimentally. It has been observed that the leakage cur...